導(dǎo)讀有一個(gè)問(wèn)題很多人不知道，那就是AK47為什么會(huì)成為世界槍王？帶著這個(gè)問(wèn)題，讓我們繼續(xù)前行。

在品質(zhì)決定一切的今天，產(chǎn)品在設(shè)計(jì)階段，生產(chǎn)階段，以及物流等環(huán)節(jié)，都有相當(dāng)多的因素影響產(chǎn)品的質(zhì)量和品質(zhì)，一般來(lái)講，產(chǎn)品越到后端，發(fā)生的質(zhì)量問(wèn)題越突出，所以企業(yè)就集中越多的人力、物力去解決。

對(duì)于制造類(lèi)企業(yè)來(lái)說(shuō)，處理售后以及生產(chǎn)的問(wèn)題，占據(jù)了質(zhì)量部門(mén)的主要精力。然而，這些質(zhì)量問(wèn)題暴露，并不僅僅是這單一過(guò)程的問(wèn)題，而是前端的過(guò)程某些環(huán)節(jié)和因素失控累加的結(jié)果。所以說(shuō)，應(yīng)該順著產(chǎn)品生命周期的流程，向前端尋找影響質(zhì)量的真正原因。

產(chǎn)品70%的質(zhì)量問(wèn)題是由設(shè)計(jì)不當(dāng)引起的，所以我們應(yīng)該從設(shè)計(jì)環(huán)節(jié)入手，優(yōu)先解決設(shè)計(jì)的質(zhì)量問(wèn)題。

以迅爾儀表Virgo型數(shù)字渦街流量計(jì)這款產(chǎn)品為例，開(kāi)發(fā)過(guò)程中，迅爾儀表研發(fā)人員深刻感受到了這一點(diǎn)，2012年10月，公司正式啟動(dòng)了基于集成芯片（ASIC）的渦街流量計(jì)轉(zhuǎn)換器的開(kāi)發(fā)。

首先是產(chǎn)品策劃，進(jìn)行市場(chǎng)調(diào)研，得出以下結(jié)論，現(xiàn)有產(chǎn)品存在如下弊端：一是轉(zhuǎn)換器的元件多、體積大，穩(wěn)定性差，現(xiàn)場(chǎng)適用性差，經(jīng)常需要客戶進(jìn)行撥碼調(diào)節(jié)，給客戶帶來(lái)了諸多不便；二是信號(hào)處理電路輸入阻抗小，導(dǎo)致儀表量程范圍小，大大限制了量程范圍的擴(kuò)展；三是抗干擾性能差，如對(duì)電磁干擾、振動(dòng)過(guò)于敏感。

所以，想提高產(chǎn)品的質(zhì)量，必須讓轉(zhuǎn)換器的設(shè)計(jì)跟上電子線路的發(fā)展速度，使用集成電路技術(shù)，把信號(hào)處理電路集成化。芯片的設(shè)計(jì)過(guò)程主要包括各個(gè)口徑信號(hào)的建模，完善集成芯片的設(shè)計(jì)，芯片經(jīng)過(guò)4次流片和測(cè)試，終于成功達(dá)到了預(yù)期的效果。儀表在高溫60℃的環(huán)境中長(zhǎng)期運(yùn)行正常工作。

同時(shí)，考慮工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)的復(fù)雜性，存在各種干擾，如電磁輻射、靜電、雷擊、高溫等，在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)上也充分地考慮了產(chǎn)品進(jìn)行了電磁兼容（EMC）測(cè)試，包括靜電、脈沖群、雷擊浪涌、磁場(chǎng)干擾，其性能優(yōu)于國(guó)標(biāo)要求。同時(shí)也進(jìn)行了環(huán)境試驗(yàn)，儀表在高溫60℃的環(huán)境中長(zhǎng)期運(yùn)行正常工作。

總結(jié)一句話：好產(chǎn)品是設(shè)計(jì)出來(lái)的，設(shè)計(jì)過(guò)程決定了產(chǎn)品的基因。